文献紹介：Guide to making XPS measurements on nanoparticles (part7)

 VII. SUMMARY
　XPSは適切な表面清浄化、試料配置、データ収集を伴ってNP表面における性質と一貫性を理解するのにとても有益な道具であり、分析結果はNPの表面コーティング、殻、そして汚染について重要な定性情報を提供することができる。NPに対するXPS分析の潜在能力は未利用の部分があると思われる。
　不幸なことに、注意深い試料準備、データ収集のための良い経験、ピークフィッティングから情報を得ることを含む解釈、粒子の特徴を確認するために必要な起源情報を適切に報告することの必要性がとても頻繁に無視されている。結果として、文献におけるNPからのXPSのうちいくらかは誤解させるか、不正確である。
　この短い論文の中でもっとも重要な点は、他の文章でも書かれているように装置較正、試料帯電の取り扱いであり、情報を記録し、報告することで重要な良質のデータとNPの性質や振る舞いの理解に寄与する。

END